Ceylan, E., Kudubay, F.O., Bener, A.B., “Software defect identification using machine learning techniques”, 32nd Euromicro Conference on Software Engineering and Advanced Applications (SEAA), Proceedings, 240-246, 2006.

Yayın Tarihi: 
Pazar, 1 Ocak, 2006
Yayın Indexi: 
Yayın Bölümü: 
Yayın Türü: