Ceylan, E., Kudubay, F.O., Bener, A.B., “Software Defect Identification Using Machine Learning Techniques”, 32nd Euromicro Conference on Software Engineering and Advanced Applications (SEAA), Proceedings, 240-246, 2006.

Yayın Tarihi: 
Pazar, 1 Ocak, 2006
Yayın Indexi: 
CPCI-S
Yayin Birimi: 
Mühendislik Fakültesi
Yayın Bölümü: 
Bilgisayar Mühendisliği
Yayın Türü: 
Bildiri