Oral, A.D., Bener, A.B., “Defect prediction for embedded software”, 2007 22nd International Symposium on Computer and Information Sciences, 346-351, 2007.

Yayın Tarihi: 
Pazartesi, 1 Ocak, 2007
Yayın Indexi: 
Yayın Bölümü: 
Yayın Türü: